組件類(lèi)型
? 單晶組件
單晶硅組件是目前所有組件類(lèi)別中光電轉(zhuǎn)換率最高的一種。單晶硅采用鋼化玻璃以及防水樹(shù)脂進(jìn)行封裝，堅(jiān)固耐用，使用壽命一般可達(dá)25年。從外觀上看，單晶硅電池片的四個(gè)角呈現(xiàn)圓弧狀，表面沒(méi)有花紋。
? ?多晶組件
多晶硅組件的制作工藝與單晶硅差不多，但是多晶硅的光電轉(zhuǎn)換效率則要降低一些。多晶硅比單晶硅太陽(yáng)能電池的制作成本要便宜一些，材料制造簡(jiǎn)便，節(jié)約電耗，總的生產(chǎn)成本較低，因此得到大量發(fā)展。外觀上多晶硅電池片的四個(gè)角呈現(xiàn)方角，表面有類(lèi)似冰花一樣的花紋。
對(duì)于使用者來(lái)說(shuō)，單晶硅電池和多晶硅電池沒(méi)有太大的區(qū)別，它們的壽命和穩(wěn)定性都很好。單晶硅電池平均轉(zhuǎn)換效率要比多晶硅高，但是目前價(jià)格比多晶也高。
??非晶硅組件
非晶硅組件也就是我們所說(shuō)的薄膜組件，它的制作工藝過(guò)程大大簡(jiǎn)化，硅材料消耗很少，電耗更低，它的主要優(yōu)點(diǎn)是在弱光條件也能發(fā)電。但非晶硅太陽(yáng)電池存在的主要問(wèn)題是光電轉(zhuǎn)換效率偏低。
熱斑形成原因及光伏組件檢測(cè)方法
光伏組件熱斑是指組件在陽(yáng)光照射下，由于部分電池片受到遮擋無(wú)法工作，使得被遮蓋的部分升溫遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于未被遮蓋部分，致使溫度過(guò)高出現(xiàn)燒壞的暗斑。
光伏組件熱斑的形成主要由兩個(gè)內(nèi)在因素構(gòu)成，即內(nèi)阻和電池片自身暗電流。
熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽(yáng)電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的光伏組件檢測(cè)試驗(yàn)。通過(guò)合理的時(shí)間和過(guò)程對(duì)光伏電池組件進(jìn)行檢測(cè)，用以表明光伏電池能夠在規(guī)定的條件下長(zhǎng)期使用。
熱斑檢測(cè)可采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測(cè)，紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù)，以可見(jiàn)熱圖顯示被測(cè)目標(biāo)溫度及其分布。
隱裂形成原因及光伏組件檢測(cè)方法
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋，電池片的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大，有可能導(dǎo)致開(kāi)路性破壞，隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過(guò)程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂。
光伏組件在出廠前會(huì)進(jìn)行EL成像檢測(cè)，所使用的儀器為EL檢測(cè)儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用高分辨率的CCD相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。EL檢測(cè)儀能夠檢測(cè)光伏電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。
功率衰減分類(lèi)及光伏組件檢測(cè)方法
光伏組件功率衰減是指隨著光照時(shí)間的增長(zhǎng)，組件輸出功率逐漸下降的現(xiàn)象。光伏組件的功率衰減現(xiàn)象大致可分為三類(lèi)：
第二類(lèi)，組件初始的光致衰減。
第三類(lèi)，組件的老化衰減
其中，第一類(lèi)是在光伏組件安裝過(guò)程中可控制的衰減，如加強(qiáng)光伏組件卸車(chē)、倒運(yùn)、安裝質(zhì)量控制可降低組件電池片隱裂、碎裂出現(xiàn)的概率等。
第二類(lèi)和第三類(lèi)是光伏組件生產(chǎn)過(guò)程中亟需解決的工藝問(wèn)題。光伏組件功率衰減測(cè)試可通過(guò)光伏組件 I-V 特性曲線測(cè)試儀完成。
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