組件EL（Electroluminescence）檢測(cè)中文名為電致發(fā)光缺陷檢測(cè)，是根據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件進(jìn)行缺陷檢測(cè)。給晶體硅電池組件通入1-1.5倍Isc的正向電流，硅片會(huì)發(fā)出1000-1100nm的紅外光，同時(shí)攝像頭可以捕捉到這

12-29 / 光伏